射频LCR测试仪特点

　　射频LCR测试仪特点

　　1.高速测量:10ms

　　射频LCR测试仪在1 MHz～3 GHz频率范围可以提供精确、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。

　　2.生产率高、质量可靠

　　适于在射频范围对电子元器件进行测试。测量速度非常快。此外，在小测试电流(100mA)处优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。

　　3.系统组建简单

　　测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件接点附近，而不会使误差有任何增大。内置比较器功能、高速GPIB接口和处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。

　　4.便于使用

　　8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外，若干APC-7，SMD测试夹具可以与所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用，从而无需制作专用夹具。

　　阻抗测量范围宽，从200mΩ到3kΩ

　　在低试信号电平上具有优良的测量重复性

　　基本精度为1%

　　技术指标

　　测量参数：|Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ

　　测量电路形式：串联和并联

　　工作频率：1 MHz～3 GHz

　　频率分辨率：10 kHz

　　信号源特性：

　　振荡器电平：5mVrms～0.25Vrms(输出端开路)

　　电平显示单位：V，I，dBm

　　连接器：APC-3.5

　　输出阻抗(额定值)：50Ω

　　触发：内部，外部，手动和GPIB

　　阻抗测量范围：200 mΩ～3 kΩ

　　基本测量精度：|Z|:1%;D:0.01

　　测量时间：10 ms

　　接口：GPIB，处理器接口

　　显示器：8.4英寸彩色LCD显示器

　　储存：内置HDD/FDD，备用SRAM存储器

　　一般指标

　　工作温度/湿度：10～40℃/相对湿度15%～80%

　　预热时间：30分钟

　　电源要求：90V～132V,或198V～264V，47Hz～66Hz，500VA(最大值)

　　尺寸：主机：426mm(宽)×234mm(高)×446mm(长)

　　主要技术资料

　　射频LCR测试仪产品介绍，p/n 5968-5443E

　　技术指标，p/n 5968-5758E

　　LCR测试仪，阻抗分析仪和测试夹具选购指南，p/n 5952-1430E

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