LCR测试仪测量原理
Vx与Vr均是矢量电压表，Rr是理想电阻。自平衡电桥的意思是：当DUT(DeviceUnderTest)接入电路时，放大器的负反馈配置自动使得OP输入端虚地。Vx准确测定DUT两端电压(DUT的Low电位是0)，Vr与Rr测得DUT电流Ix，由此可计算Zx。 HP4275的测试端Hp，Hc，Lp，Lc(下标c代表current，下标p代表Potentail)，Guard(接地)的配置可导致测试的误差的差异。 提高精度的方法是：1，Hp，Lp，Hc，Lc尽量接近DUT;2，减小测试电流Ix的回路面积磁通量(关键是分析Ix，要配合使用Guard与Cable最小化回路面积);3，使用Gurard与Cable构建地平面中断信号线间的电场连接，虽然会增加信号线的对地电容(对地电容不影响测试结果)，但是会减少信号线的互容。 Guard与Cable的对地寄生阻抗(Zhg，Zlg)不影响测试结果，电桥平衡时Zlg的两端电压是0，流向Rr的电流不会被Zlg分流，Zhg的分流作用不影响Hp的电压测量。
LCR测试仪的主要功能
数字电桥可用于计量测试部门对阻抗量具的检定与传递，以及在一般部门中对阻抗元件的常规测量。很多数字电桥带有标准接口，可根据被测值的准确度对被测元件进行自动分档;也可直接连接到自动测试系统，用于元件生产线上对产品自动检验，以实现生产过程的质量控制。80年代中期，通用的误差低于0.1%的数字电桥有几十种。数字电桥正向着更高准确度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面发展。
电容C，电感L，电阻R是电子工程师在产品设计中最常用的电子元器件。作为常见的小小的被动器件，确影响着电路的参数，也直接牵扯的电子产品的优劣。所以对于每个元器件(电容/电感/电阻)，我们要了解其特性参数，也需要时刻准确测量到这些参数。
LCR测试仪就是用来测试元器件(电容/电感/电阻)参数的。在一般情况下，电阻只要测量其直流电阻值就可以了，这样可以使用万用表(例GDM-8261A)或者电阻测试仪(例GOM-802)，另外固纬电子LCR-8000G系列也具有直流电阻测量功能。与普通电阻不同，对于电感和电容，就需要采用交流方式来测量。LCR测试仪就是采用交流电进行测量。对于交流电而言，电压V与电流I的比值是阻抗Z，直流方式下的电阻R只需用‘大小’来表示，而阻抗Z确包含了‘大小’和‘相位’两个要素，在数学上用复数和矢量来表示。
LCR测试仪测量步骤
LCR测试仪一般用于测试电感和电容。测量步骤如下：
1、设置测试频率
2、测试电压或者电流水平
3、选择测试参数，比如Z、Q、LS(串联电感)、LP(并联电感)、CS(串联电容)、CP(并联电容)、D等
4、仪器校准，校准主要进行开路、短路校准，高档的仪器要进行负载校准
5、选择测试夹具
6、夹具补偿
7、将DUT放在夹具上开始测试
LCR测试仪与试样的连接方法
用LCR测试仪来测量零部件的参数时，其关键问题在于测量误差。首先是LCR测试仪本身的内部误差，还存在各种各样的原因，而与试样的连接所引起的误差，就是其中之一。
由于LCR测试仪的型号不同，可能的连接方法也会有区别，在此我们整理一下五种连接方法的各自特点。一般来说，连接方法越麻烦，越能准确地进行测量。
1、端子法
是一种减少测量阻抗误差的方法。
2、端子法
虽然连接容易，但是由于接触电阻、连接电缆的串联(r)、连接电缆以及端子之间的杂散电容(Cs)会引起较大的误差，如果不是中等数量级的阻抗，那么测量误差就会比较大。
3、端子法
对测试电缆和试样进行屏蔽，通过抑制杂散电容，减少对于高阻抗零部件的测量误差。
主要可用于测量较小的电容量。
4、端子法
设置独立的电压检测电缆，以消除由于测试电缆的串联阻抗所引起的电压降和接触电阻的影响等，是一种减少低阻抗零部件的测量误差的方法。需要考虑由于电缆之间的互电感(M)所产生的影响。
如果使用在一个夹子上有2个相互绝缘的电极的开耳芬夹子，那么用2个夹子可以容易地进行4个端子的连接。
5、端子对法
对于交流阻抗的测量，与直流测量不同，其特点是不会受到温差电动势的影响。但是，由于电流电缆与电压电缆之间的电磁感应，测量的频率越高，要想测量低阻抗就越困难。对于这个问题，可以利用电缆的屏蔽层，使电流的去路和归路相互重叠，以抑制磁通量的产生，由此来减少由于电磁感应所引起的残留阻抗。
对电流电压变换部分进行控制，由此使试样一端(Lp端子对)的电压接近于零。即使Lc端子对上的电压也接近于零，但是由于电流的去路与归路相互重叠，所以也能抑制电磁感应的影响。
客服1